1 范圍
本標(biāo)準(zhǔn)提出了潔凈室及相關(guān)受控環(huán)境的空氣化學(xué)污染控制的檢測(cè)、控制等指南。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于微電子、光電子工廠以及特殊需求的生產(chǎn)、研究等潔凈室及相關(guān)受控環(huán)境的空氣化學(xué)污染控制。
本標(biāo)準(zhǔn)不適用于核能和軍事應(yīng)用。
2 規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T 25915.8—2010 潔凈室及相關(guān)受控環(huán)境 第8部分：空氣分子污染分級(jí)(ISO 14644-8：2006, IDT)
3 術(shù)語和定義
下列術(shù)語和定義適用于本文件。
3.1
空氣分子污染 airbme molecular contamination； AMC
以氣態(tài)或蒸汽態(tài)存在于潔凈室及相關(guān)受控環(huán)境中，可危害產(chǎn)品、工藝、設(shè)備的分子(化學(xué)的、非顆粒) 物質(zhì)。不包含生物大分子。
注：空氣分子污染即空氣化學(xué)污染。
3.2
環(huán)境反應(yīng)監(jiān)測(cè)法 environmental response monitoring methods ； ERMs
綜合監(jiān)濯腐蝕性氣體對(duì)芯片的腐蝕程度的方法。
注：將環(huán)境反應(yīng)采樣片(ERCs)放在各個(gè)待測(cè)區(qū)域，如新風(fēng)機(jī)組的進(jìn)出口，循環(huán)風(fēng)機(jī)組進(jìn)出U等，時(shí)間是以30天為一個(gè)周期，觀察采樣片厚度的變化，以A(Angstrom)為單位。
3.3
污染物 contaminant
能對(duì)流體的預(yù)期使用產(chǎn)生負(fù)面影響的物質(zhì)(固體、液體和氣體)。
3.4
氣相空氣凈化裝置 gas phase air cleaner device；GPACD
能去除特定的氣體和蒸汽等氣相污染物的組裝設(shè)備。
注：在本標(biāo)準(zhǔn)中即化學(xué)過濾器，化學(xué)過濾器屬于氣相空氣凈化裝置的一種。
3.5
空氣化學(xué)污染 air chemical contamination
氣相的非顆粒物質(zhì)，其化學(xué)性質(zhì)對(duì)產(chǎn)品、生產(chǎn)工藝或設(shè)備產(chǎn)生不利的影響。
4 污染源、分級(jí)與分類
4.1 污染源
4.1.1 室外環(huán)境的空氣污染物:SO,、VOCs、O八NH八HzS'HQ等。
4.1.2 作業(yè)人員攜帶:汗水（NH3）、K離子、PVC手套、香水、發(fā)膠等。
4.1.3 制程逸散:制程化學(xué)原料——光刻膠、清洗劑、顯影劑、去光阻劑、特氣泄漏等。
4.1.4 潔凈室用材“釋氣”和設(shè)備泄漏:涂料、各類密封膠、期料材質(zhì)、機(jī)臺(tái)維修等。
4.2 分級(jí)與分類
4.2.1 一般的分級(jí)見 GB/T 25915.8—2010 中表 1。
4.2.2 微電子和光電子領(lǐng)域的分類與分級(jí)參見附錄A。
5 檢測(cè)
5.1 單項(xiàng)污染物檢測(cè)參見附錄B中
5.2 環(huán)境反應(yīng)監(jiān)測(cè)法（ERMs）參見B.3。
注：5.2是采取較長(zhǎng)時(shí)間的取樣方法，通過檢測(cè)判定分子污染統(tǒng)合影響.
6 空氣化學(xué)污染控制
6.1 確定是否污染及情況
定性確定是否有空氣化學(xué)污染。如有，需分析測(cè)定污染物的類型和濃度范圍。
6.2 控制措施
6.2.1 采用化學(xué)過濾器并根據(jù)污染物和控制目標(biāo)，對(duì)空氣化學(xué)過濾器的過濾介質(zhì)（如活性炭、改性活性炭等）的有效性、裝填密度,過濾器的設(shè)計(jì)、加工的優(yōu)劣（防止溝流）等進(jìn)行分析并選擇。
注：化學(xué)過濾器的性能及檢測(cè)參見GB/T 36370-2018。
6.2.2 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)化學(xué)過濾器的出風(fēng)口，如遇出風(fēng)口氣流中污染物濃度超出規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)則應(yīng)立即更換。
注：空氣化學(xué)過濾器使用壽命通常為一年，該指標(biāo)是在標(biāo)潴指定試臉條件下測(cè)定的結(jié)果，與實(shí)際使用條件有偏差, 只能作為參考。
6.2.3 控制化學(xué)分子污染設(shè)施系統(tǒng)參見附錄C。
6.2.4 微電子工業(yè)潔凈室空氣化學(xué)污染控制參見附錄D。
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